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微波組件(jiàn)、集成電路測試
射(shè)頻集成電路測試係統是(shì)針(zhēn)對射頻集成電(diàn)路的(de)性(xìng)能(néng)指標測試要(yào)求(qiú),基於(yú)PXIe總線儀器為主體構建的一種集(jí)射頻、數字、源測量等測試資源於一體且集成度高的集成電路綜合測試平台。該係統具有開放式的係統(tǒng)體(tǐ)係架構(gòu),可適用(yòng)於集成電路設計(jì)驗證、產線測試、入廠複檢(jiǎn)等不同應用場景,能夠滿足射頻前端類(lèi)相關的功率放大器、低噪聲放大器、微波(bō)開(kāi)關、濾(lǜ)波器、雙工器(qì)等器件的全指標多工位並行自(zì)動化測試需求。
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