聯係電話:
400-168-4191
產品綜述
6433P光波元件分析儀是麵向高速電光器（qì）件（jiàn）、光電器件及光（guāng）光器件調製特性測試的儀器，頻率範圍覆（fù）蓋10MHz~110GHz，集成（chéng）電電測試、電光測（cè）試、光電測試及光光測試4種測試模（mó）式，具有對數/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確測量光電網絡（luò）的（de）幅/相頻特（tè）性（xìng），主（zhǔ）要應用於高速電光器件（電光（guāng）強度調製器、直接（jiē）調製激光器、光發射組件）、光電器件（探（tàn）測器、光（guāng）發射（shè）組件、探測器芯片）及光光（guāng）器件（光衰（shuāi）減（jiǎn）器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數的測試。
功能特點
-
主（zhǔ）要特點
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆（fù）蓋；
最小頻率分辨率1Hz；
測試功能豐富，具備傳輸、反射等（děng）多種參數測試功能（néng）；
一體化多功能測試界麵（miàn）；
向導式校準及一（yī）鍵式（shì）快速掃頻測試；
多窗口顯示及快（kuài）速分析；
自動夾具移除（chú），快速獲取探針數據；具有USB、LAN等接（jiē）口和（hé）SCPI程控指（zhǐ）令集，可實現自動測試
-
10MHz~110GHz 寬（kuān）頻帶同軸覆蓋
6433P光波元件（jiàn）分析儀調製頻（pín）率最高可達110GHz，最（zuì）小頻（pín）率分辨率為1Hz，可實現高速寬頻帶光器件及光芯片調製特性測試。
-
一體化多功能測試向導界（jiè）麵
6433P光波元件分析儀具（jù）備電（diàn）電、電（diàn）光、光電、光光四種測量模式，功能模（mó）式之間可任意切（qiē）換，可滿足（zú）光器件的S參數、阻（zǔ）抗、時域等參數測量需求。一體化（huà）多功能（néng）界麵方便用戶快速完成測（cè）量模式、光波參數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入等（děng）參數的設置。
-
向導式校（xiào）準及一鍵式測試
6433P光波元件分析儀進行（háng）微波域（yù）的電電（diàn）校準及光波域的光路校準時，采用向導式（shì）校準，方便用戶對儀器（qì）進行快速校準，獲得被測件準確的測試結果。同（tóng）時采用一體化集成設計方案，利用核心算法（fǎ），實現電光/光電/光光器件（jiàn）一鍵式寬帶快速掃頻測（cè）試。
-
多窗口快速顯示（shì）及分析
6433P光波元件（jiàn）分析儀最多（duō）支持（chí）64個測量（liàng）通道，32個（gè）測量窗口，每個窗口最多可同時顯示16條測試軌跡，可實現結果的（de）多窗口、多格式顯示。
高分辨率多（duō）點觸控電容屏可（kě）快速實現各種輸（shū）入和選擇操作，快捷高效，便於用戶快速分析數據，為用戶提供全新的光（guāng）波元件分析儀操作體驗。
-
自動（dòng）夾具移除，快速獲取探針數據
6433P光波（bō）元（yuán）件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解決光芯片S參數（shù）測試難題。測試時，將高頻（pín）探針等效為夾具，通過自動夾具移除功能測量（liàng）高頻（pín）探針的時域參數，利用信號流圖提取頻域參數，形成s2p文件，進而（ér）通過射頻去嵌入，實現光芯片的高精度S參數測試。
可拖動左右查看（kàn）列表全部
|
型號 |
調（diào）製（zhì）頻率範圍 |
工作波長 |
光功（gōng）率（lǜ）測試範圍 |
動態範圍 |
對（duì）比 |
|---|
