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高速光器件測試（shì）

6433D,6433F,6433H,6433L光（guāng）波元件分析儀
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主機型號

編號	名稱	描述（shù）
6433D	光波元件分析儀	頻（pín）率範圍:10MHz～26.5GHz
6433F	光波元件分析儀（yí）	頻率（lǜ）範圍:10MHz～43.5GHz
6433H	光波元件分析儀	頻率範圍:10MHz～50GHz
6433L	光波元件（jiàn）分析儀（yí）	頻率範圍:10MHz～67GHz

選件型號

編號	名（míng）稱	描述	選配
6433L-405	四端口T型偏置器	內部配置4個（gè）T型（xíng）偏置器,用於端口輸出直流偏置電壓，必選（xuǎn）6433L-400+6433L-401+6433L-404，與6433L-403不可同（tóng）時（shí）選配。
6433L-404	四（sì）端口可（kě）配（pèi）置測試裝置	對（duì）四端（duān）口機型（xíng）的測試裝置進行擴展，增加麵板跳線，可獨（dú）立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選6433L-400。
6433L-402	有源互（hù）調失真測（cè）量	用於有源互調失真信號測量,必選6433L-400+6433L-404+6433L-S20。
6433L-401	四端口程控步進衰（shuāi）減器	配置源通路4個50dB程控步進衰（shuāi）減器，接收機通路4個50dB程控步進衰減器,必選6433L-400+6433L-404。
6433L-400	四端（duān）口測量	雙源激勵四端口光波元件分析儀配置，頻率範圍10MHz ～67GHz。
6433L-205	二端口T型偏置器	內部配置2個T型偏置器，用於端口輸出直流偏置電壓，必（bì）選（xuǎn）6433L-201+6433L-204，與6433L-203不可同時選配。
6433L-204	二端口可配置測試裝置	對二端（duān）口機型的測試（shì）裝置進行擴展，增加麵板跳線，可獨立使用A、B、R1、R2 接收（shōu）機。
6433L-201	二（èr）端口程控步進衰減器	配置源通路2個50dB程控步進衰減器，接（jiē）收機通路2個50dB程控步進衰減器,必選（xuǎn）6433L-204。
6433L-023	混頻器矢量測量功能（néng）	用於混頻器矢（shǐ）量參數測（cè）量，二端（duān）口必選6433L-204+6433L-S20，四端口必選6433L-404+6433L-S20。
6433L-012	多功能光波分析裝置	頻率範圍（wéi）：10MHz~67GHz，用於對光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。
6433L-011	OE標準件	頻率範圍:10MHz～67GHz,用（yòng）於對光電測試模塊的（de）數據校驗。
6433L-008	脈衝測量	用於脈衝狀態下S參數測量。
6433H-405	四端口T型偏置器（qì）	內部配置4個（gè）T型偏置器,用於端口（kǒu）輸出直流偏置電壓，必選6433H-400+6433H-401+6433H-404，與6433H-403不（bú）可同時選配。
6433H-404	四端（duān）口（kǒu）可配置測試裝（zhuāng）置	對四端口機型的（de）測試裝置進行擴展，增加麵板跳線，可獨（dú）立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機（jī），必選6433H-400。
6433H-402	有源互調失真測量	用於有源互調失真信（xìn）號測（cè）量,必選6433H-400+6433H-404+6433H-S20。
6433H-401	四端口程控步（bù）進衰減器		配（pèi）置源通路4個60dB程控步進衰減器，接收機通路4個35dB程控步進衰減器,必選6433H-400+6433H-404。
6433H-400	四端口測量	雙源激勵（lì）四端口光波元件分析儀配置，頻（pín）率範圍10MHz ～50GHz。
6433H-205	二端口（kǒu）T型偏置器	內部配置2個T型偏置器，用（yòng）於端口輸（shū）出直流偏置電壓，必選6433H-201+6433H-204，與6433H-203不可同（tóng）時（shí）選配。
6433H-204	二端口可配置測試裝置	對（duì）二端口機（jī）型的（de）測試裝置進行擴展，增（zēng）加麵板跳（tiào）線，可獨立（lì）使用A、B、R1、R2 接收機。
6433H-201	二端（duān）口程控（kòng）步進衰減器	配置源通路2個60dB程控步進衰減器，接收機通路2個35dB程控步進衰減（jiǎn）器,必選（xuǎn）6433H-204。
6433H-023	混頻器矢量測量功能	用（yòng）於（yú）混頻（pín）器矢量參數測量，二端口（kǒu）必選6433H-204+6433H-S20，四端口必選6433H-404+6433H-S20。
6433H-012	多功能光波分析裝置	頻率範圍：10MHz~50GHz，用於對光（guāng）波的光電/電光模塊測試的數據校驗。
6433H-011	OE標準件（jiàn）	頻率（lǜ）範圍:10MHz～50GHz,用於對光電測試模塊的數據校驗。
6433H-008	脈（mò）衝測量（liàng）	用於脈衝狀態下S參數測（cè）量。
6433H-003	噪聲係數（shù）測量	用於（yú）S參數、噪聲係數和噪聲參數的精確測量，二端口必選6433H-201+6433H-204，四端口必選6433H-401+6433H-404。
6433F-405	四端口T型偏（piān）置（zhì）器	內部配置4個T型偏置（zhì）器,用於端口輸（shū）出直流偏置電壓，必選6433F-400+6433F-401+6433F-404，與6433D-403不可同時選配。
6433F-404	四端口可配置測試裝置	對四端口機型的測試裝置進行（háng）擴展，增加麵板跳線，可（kě）獨立（lì）使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機（jī），必（bì）選6433F-400。
6433F-402	有源互調（diào）失真測量	用於有源互調失真信號（hào）測（cè）量（liàng）,必選6433F-400+6433F-404+6433F-S20。
6433F-401	四端口程控步進衰（shuāi）減器	配置源通路4個60dB程控步進衰減器，接收機（jī）通路4個35dB程控步進衰減器,必選6433F-400+6433F-404。
6433F-400	四（sì）端（duān）口測量	雙源（yuán）激勵四端口光波元件分析儀配置，頻率範圍10MHz ～44GHz。
6433F-205	二端口T型偏置器	內部配（pèi）置2個T型偏置器，用於端口輸出直流偏置電壓，必選6433F-201+6433F-204，與6433F-203不可同時選配（pèi）。
6433F-204	二端口可配置測試裝置	對二端口機型的測試（shì）裝置進行擴展，增加麵板跳線，可獨立使用A、B、R1、R2 接收機（jī）。
6433F-201	二端口程控步進衰（shuāi）減器	配置源通路2個60dB程控（kòng）步進衰減器，接收機（jī）通路2個35dB程控步（bù）進衰減器,必選6433F-204。
6433F-023	混頻器矢（shǐ）量測量功能	用於混頻器矢量參數測量，二端口必（bì）選6433F-204+6433F-S20，四端口（kǒu）必選6433F-404+6433F-S20。
6433F-012	多功能光波分析裝置	頻率範（fàn）圍：10MHz~44GHz，用於（yú）對光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。
6433F-011	OE標（biāo）準件	頻（pín）率範（fàn）圍:10MHz～44GHz,用於對光電（diàn）測試模塊的數據校驗。
6433F-008	脈衝（chōng）測量	用於脈衝狀態下S參數測量。
6433F-003	噪聲係數測量	用於S參（cān）數、噪聲係數和噪聲參數的（de）精確測量，二（èr）端口必選6433F-201+6433F-204，四端口（kǒu）必選6433F-401+6433F-404。
6433D-405	四端口T型偏置器	內部配置4個T型偏置器用於端口輸出（chū）直流偏置電壓，必選6433D-400+6433D-401+6433D-404，與6433D-403不可同時選配。
6433D-404	四（sì）端口（kǒu）可配置（zhì）測試裝置	對四端口機型的測試裝（zhuāng）置進行擴展，增加麵板跳線，可獨立使（shǐ）用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選（xuǎn）6433D-400。
6433D-402	有源互調失真測量	用於有源互調失真信號（hào）測量,必選6433D-400+6433D-404+6433D-S20。
6433D-401	四端口程控步進衰減（jiǎn）器	配置源通路4個（gè）70dB程控步進衰（shuāi）減（jiǎn）器（qì），接收機通路4個35dB程控步進衰減器,必選6433D-400+6433D-404。
6433D-400	四端口測量	雙（shuāng）源（yuán）激勵四端口光波元（yuán）件分析儀配置，頻率（lǜ）範圍10MHz ～20GHz。
6433D-205	二端口T型偏置器	內部配置2個T型（xíng）偏置器，用於端口輸（shū）出直流偏置電壓，必選6433D-201+6433D-204，與6433D-203不可同時選配。
6433D-204	二端口可配置測試裝置	對二端口機型的測試裝置進行擴（kuò）展，增加麵板（bǎn）跳線，可獨立使用（yòng）A、B、R1、R2接收機。
6433D-201	二端口程控步進衰減器	配置源通路2個70dB程控步（bù）進衰（shuāi）減器，接收機通路2個（gè）35dB程控步進衰減器，必選6433D-204。
6433D-023	混頻器矢量測量功能	用於混頻器矢量參數測量，二端口必（bì）選6433D-204+6433D-S20，四端口必選6433D-404+6433D-S20。
6433D-012	多功能（néng）光波分析裝置	頻率範（fàn）圍：10MHz~20GHz，用於對光波（bō）的光電/電光模塊測試的數據校驗。
6433D-008	脈衝測量	用於脈（mò）衝狀態下S參數測量。
6433D-003	噪聲係數（shù）測量	用（yòng）於S參（cān）數、噪聲係數和噪聲參數的精確測量，二端口必（bì）選（xuǎn）6433D-201+6433D-204，四端口必選（xuǎn）6433D-401+6433D-404。

軟（ruǎn）件型號

編號	名（míng）稱	描述	選配
6433L-EWT1	保修期以外延長保修1年	保修期以外（wài）延長保修1年，2年延保可選（xuǎn）2項，以（yǐ）此類推（tuī），服務不含校準（zhǔn），僅含單程貨品運費（fèi）。
6433L-S30	頻譜分析功能	用於提供多通道頻譜測（cè）試功能。
6433L-S28	相位掃描測量功能	用於相位掃描測量，必選6433L-400。
6433L-S26	增益壓縮測量功能	用於放大（dà）器等（děng）有源器件的增益壓縮測量。
6433L-S24	嵌入（rù）式本振變頻器測量功能	用於內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433L-204+6433L-S20,四端口必選6433L-404+6433L-S20，必選6433L-S22或6433L-023。
6433L-S22	混（hún）頻器標（biāo）量測量功能	用（yòng）於混頻器標量參數測量，必選6433L-S20。
6433L-S20	頻（pín）偏測量功能	用於頻率（lǜ）偏移測量（liàng）。
6433L-S18	快速連續波掃描功能	使用FIFO 緩衝法（fǎ），即（jí）時讀取數據。
6433L-S16	真實（shí）差分測量功能（néng）	用（yòng）於真實差模、共模激勵平衡參數（shù）測量,必選6433L-400+6433L-404+6433L-S28。
6433L-S11	高級時域分析	用於TDR時（shí）域阻抗測試、眼圖分析等，購買6433L-S11贈送（sòng）6433L-S10。
6433L-S10	高級時域分析（xī）	用於TDR時域阻抗測試、眼圖分析等，購買6433L-S11贈送6433L-S10。
6433L-S07	自動夾具移除功能	用於單端及平衡器件測量夾具自動測試（shì）及移除
6433L-S05	S參數信號完整性（xìng）分析功能	用於分析係統的（de）頻（pín）域（yù）、時（shí）域TDR 和（hé）串擾等信號完整性特（tè）性，可自動將圖形曲線轉換成測試報告（gào）。
6433H-EWT1	保修期以外延（yán）長保修1年	保修期以（yǐ）外延長保修1年，2年延保可（kě）選2項，以此類推，服務不含校準（zhǔn），僅含單程貨品運費（fèi）。
6433H-S30	頻譜分析功能	用於提供多通（tōng）道頻譜測試功能。
6433H-S28	相位掃描測量功能	用於相位掃描測量，必選6433H-400。
6433H-S26	增益（yì）壓（yā）縮測量功能	用於放大器（qì）等有源器件的增益壓縮測量。
6433H-S24	嵌入式本振變頻器測量功能	用於內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433H-204+6433H-S20,四端口必選（xuǎn）6433H-404+6433H-S20，必選6433H-S22或6433H-023。
6433H-S22	混頻器標量測量功能	用於混頻（pín）器標量參數測（cè）量，必選6433H-S20。
6433H-S20	頻（pín）偏測量功能	用（yòng）於頻率偏移測量。
6433H-S18	快速連續波掃描功（gōng）能	使（shǐ）用FIFO 緩衝法，即時讀取數據。
6433H-S16	真實差分測量功能	用於真實差模、共模激勵平衡參（cān）數測量,必選6433H-400+6433H-404+6433H-S28。
6433H-S11	高級（jí）時域分（fèn）析	用於TDR時域阻抗測試、眼圖（tú）分析等，購買（mǎi）6433H-S11贈（zèng）送6433H-S10。
6433H-S10	時域測（cè）量	用於時域測量，可（kě）確定器件、夾具或電纜中不連續位置並進（jìn）行分析
6433H-S07	自動（dòng）夾具移（yí）除功能	用於單端及平衡器件測（cè）量夾具自動測試（shì）及移除
6433H-S05	S參數信號完整性分析功能	用於分析係統的頻域、時域TDR 和串擾等信號完整性特性，可自（zì）動將（jiāng）圖形曲線轉換成測（cè）試（shì）報告。
6433F-EWT1	保修期以（yǐ）外延長保修1年	保修期以外延長（zhǎng）保修1年，2年延保可選2項，以此類推，服（fú）務不含校準，僅含單程貨品運費。
6433F-S30	頻譜分析功能	用於提（tí）供多通道頻譜測試功能。
6433F-S28	相位掃描測量功（gōng）能	用於相位（wèi）掃描測量，必選6433F-400。
6433F-S26	增益壓縮測量功能	用於放大器等有源器件的增益壓縮測量。
6433F-S24	嵌入式本振變頻（pín）器測量功能（néng）	用於內嵌（qiàn）本振變頻器測量，二端口（kǒu）必選6433F-204+6433F-S20,四端口必選6433F-404+6433F-S20，必選（xuǎn）6433F-S22或（huò）6433F-023。
6433F-S22	混頻器標量測量功能	用於混頻器標量參數測（cè）量，必選6433F-S20。
6433F-S20	頻偏測量功能	用於頻率偏移測（cè）量。
6433F-S18	快速連續波掃描功（gōng）能	使用FIFO 緩衝法，即時讀取數據。
6433F-S16	真實差分測（cè）量功能	用於真（zhēn）實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433F-400+6433F-404+6433F-S28。
6433F-S11	高級時域（yù）分析功能	用於TDR時域阻抗（kàng）測試、眼圖分析等，購買6433F-S11贈送（sòng）6433F-S10。
6433F-S10	時域測量功能	用於時（shí）域測量，可確定器件、夾具或電纜中不連（lián）續位置並進行分析
6433F-S07	S參數信號完（wán）整性分析（xī）功能	用於分析係統（tǒng）的頻域、時域TDR 和串擾等信號完（wán）整性特性，可自動將圖形（xíng）曲線轉換成測試報告。
6433F-S05	四端口（kǒu）T型偏置器	內部配（pèi）置（zhì）4個T型偏置器,用於端口輸出直流偏置電壓，必選6433F-400+6433F-401+6433F-404，與（yǔ）6433D-403不可（kě）同時選配。
6433D-EWT1	保修期（qī）以外延長保修1年	保修期以外延長保修1年，2年延保可選（xuǎn）2項，以此類推，服（fú）務不含校準，僅含單程貨品運費。
6433D-S30	頻譜分析功能	用於提供多通道頻譜測試功能。
6433D-S28	相位掃描測量功能	用於相位（wèi）掃描測量，必選6433D-400。
6433D-S26	增益壓縮測量功能	用於放大器等有源器件的增益壓（yā）縮測量。
6433D-S24	嵌入式本振變頻器測（cè）量功能		用於內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433D-204+6433D-S20,四端口必選6433D-404+6433D-S20，必選6433D-S22或（huò）6433D-023。
6433D-S22	混頻器標量測量功能	用於混頻器標量參數測量，必選（xuǎn）6433D-S20。
6433D-S20	頻偏測量功能	用於頻率偏移測量。
6433D-S18	快速連續波掃描功能	使用FIFO 緩衝（chōng）法，即時讀取數據（jù）。
6433D-S16	真（zhēn）實差分測量功能（néng）	用於（yú）真實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433D-400+6433D-404+6433D-S28。
6433D-S11	高級時域分析功能	用於TDR時域阻抗測試、眼圖分析等，購買6433D-S11贈送6433D-S10。
6433D-S10	時（shí）域測量功能	用於時域（yù）測量，可確定器件、夾具或電纜中不（bú）連續位置並進行分（fèn）析。
6433D-S07	自動夾具移除功能（néng）	用於單端及平衡器件測量夾具自動測試及移除。
6433D-S05	S參數信號完整性分析功能	用於（yú）分（fèn）析係統的頻域、時（shí）域TDR 和串擾等信號完整性特性（xìng），可自動將圖形（xíng）曲（qǔ）線（xiàn）轉換成測試報告。

6433D,6433F,6433H,6433L光（guāng）波元件分析儀

主機型號

選件型號

軟（ruǎn）件型號

產品配置

主（zhǔ）機型號（hào）

硬件選件（jiàn）

軟件選件

標配附件