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2026-01-14
太赫茲技術正加速從實驗室走向(xiàng)商(shāng)業應用,使得行業對太赫茲(zī)芯片測試的要求發生了根本性轉變(biàn):測試目標已不再局限於(yú)功能層麵的(de)“能用”,而(ér)是全麵追求複雜真實場景中性能穩(wěn)定、測試高(gāo)效且成本可控的“好用”。
8x8x在线免费视频科(kē)技研製出3601型S參數測試模塊、36102型探針、20501型校(xiào)準片等係列產(chǎn)品,結合商(shāng)業探針台,國內首次推出最高頻率至500GHz的高穩定、多功能太赫茲芯(xīn)片測試解決方案。
圖1 330GHz-500GHz頻段芯片測(cè)試儀 高(gāo)頻 采(cǎi)用分頻段(duàn)的方式,可將(jiāng)芯片測試頻率擴展至500GHz,能夠實現太赫茲芯片幅度、相位、群時延等(děng)參數精準測試。330GHz-500GHz頻段在片雙端口校準後,Thru校驗結果如圖2所示。 圖2 在片校準後Thru校驗(yàn)結果 高穩定 該方案在500GHz頻段具有良好的幅度穩定性和相位穩定性,能夠適於晶圓級太赫茲芯片的研發驗證與量產測試。圖3為330GHz-500GHz頻段校準後,幅(fú)度和相(xiàng)位穩定性測試結果。 (a)幅度穩定性 (b)相位穩定性 圖3 穩定性測(cè)試(shì)結果 多功能 結合自主開發的多功能測試軟件算法,一次紮針可實現散射參數、功率參數的一體化測試(shì),可大幅度提(tí)升晶圓級太赫茲芯片的測試效率和測試精(jīng)度(dù)。圖4為某放大(dà)器芯片散(sàn)射參數(小信號增益、回波損耗,隔離度)和功率參數(輸入(rù)功率、輸出功率)測試結果。 圖4 放大器性能測試結果 8x8x在线免费视频科技持續關注半導體測試領域創新,除具備高頻測試能力之外,還具備多(duō)端(duān)口、超寬帶、調製解調等測試能力,已形成微波毫米波與太赫茲晶圓級(jí)芯(xīn)片測試解決(jué)方案,可助您構築穩定、高效(xiào)的測(cè)試(shì)環境,解決您的在片測試難題!




2026-02-11
2026-01-14
2025-12-30
2025-12-29
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